TEM: EDS (Energy Dispersive X-Rays Spectroscopy)

El servicio realiza microscopía electrónica en modo transmisión: Imágenes en campo claro y campo oscuro, difracción de electrones de área selecta y microscopía electrónica de alta resolución. Puede trabajar sobre muestras electrón-transparentes preparadas en su caso ad-hoc para este fin. Proporciona imágenes bidimensionales de la textura de la muestra, forma y tamaño de grano y/o de partícula, grado de homogeneidad a escala microscópica, grado de cristalinidad de la muestra, identificación de fases cristalinas, e imágenes de alta resolución que identifican dominios cristalinos. Proporciona también análisis elemental EDX. El servicio no dispone de certificaciones ni acreditaciones. Dispone de un equipo TEM de 200 kV Jeol2100 Plus dotado de cámara CCD y de un detector EDX SDD X-Max 80T (Oxford Instruments). No dispone de modo STEM. Tiene una resolución de 0.14 nm entre líneas y 0.23 nm entre puntos.

La unidad TEM-BIOPHYM ofrece los medios para la caracterización de muestras mediante microscopía electrónica de transmisión (TEM), de fuerzas atómicas (AFM) y reología. -El microscopio electrónico trabaja en voltaje de aceleración de 200 kV con una unidad de microanálisis de rayos X (XEDS). El equipo puede obtener imágenes de alta resolución, diagramas de difracción de electrones y análisis elemental. Estas tres técnicas se pueden aplicar de forma simultánea para caracterizar los materiales a escala nanométrica con resolución hasta 3.2 amstrongs. -El AFM de modo de contacto se basa en el uso de una sonda mecánica para generar imágenes magnificadas de la superficie de las muestras. El instrumento es operable en ambiente y resuelve características en tres dimensiones, hasta unos pocos nanómetros. -La reología se lleva a cabo en los modos de torsión y capilar. -Asesoramiento en modelos atomísticos, de grano grueso y en la mesoescala en química, biología y ciencias de materiale

El laboratorio LANE cuenta con un microscopio TEM de emisión de campo Tecnai F30, dotado con modo STEM, detectores HAADF y EDX y filtro de energía (GIF), y con equipamiento anexo de preparación de muestras incluyendo limpieza por plasma, y preparación de superficies y láminas delgadas. Las técnicas disponibles incluyen: medidas TEM en campo claro y campo oscuro; TEM de alta resolución; difracción de electrones; análisis STEM-HAADF; análisis EDX y STEM-EDX así como EELS y STEM-EELS, incluyendo medidas puntuales, en línea y mapas composicionales; imágenes EFTEM; análisis espectro-imagen y tomografía electrónica. Mas detalles del laboratorio LANE pueden encontrarse en la página web http://www.lane.icmse.csic.es/ (en construcción). Estas infraestructuras ofrecen la caracterización microestructural y química especialmente en las áreas de materiales y físico-química del estado sólido. Es de especial relevancia la alta resolución analítica que permite caracterizar materiales en la nano-escala