Scanning electron microscopy (SEM): High resolution SEM

El equipo es un FEI Nova NanoSEM 230 microscopio de última generación que permite la visualización de muestras a alta ( HV) y baja ( LV ) de vacío ( < 200 Pa) a potencial variable ( 50 V a 30 kV ) sin requisito de metalización anterior incluso para las muestras no conductoras utilizando la opción de bajo vacío. El equipo incorpora varios detectores para formación de imágenes de muestras : electrones secundarios (SE) Everhart - Thornley para HV (SED ) , bajo vacío SE dectector (LVD ) , a través del detector SE lente ( TLD) , los electrones de retrodispersión ( BSE ) detector a través de la lente ( TLD - EEB) , la resolución de ultra bajo vacío SED (Helix ) detector y un nuevo detector BSE generación de imágenes de alto contraste a bajas potenciales , tanto en AT y BT (detector vCD) . análisis cuantitativo de muestras es posible con la nueva generación detector EDX ( EDAX Génesis XM2i ) que permite la identificación de los elementos con número atómico > 5 ( Boro ) y la resolución hasta..

El Servicio de Caracterización y Asistencia Científico-Técnica fue reestructurado en 2009. Supone una herramienta fundamental para el apoyo de la investigación de los diferentes grupos y departamentos del Instituto de Ciencia y Tecnología de Polímeros, centralizando el equipamiento más sofisticado a cuyo cargo se encuentran técnicos especializados. El propósito es el análisis y caracterización de materiales poliméricos para obtener información completa sobre su composición, morfología, estructura, propiedades, etc. Asimismo, el de proporcionar asistencia y apoyo cientifico-técnico a empresas y otros centro de investigación. El servicio está organizado en varias unidades (ver condiciones del servicio)

La Unidad de Ensayos gestiona una serie de técnicas instrumentales y de caracterización fisico-quimicas para el ensayo y análisis de materiales de construcción. Tanto de los constituyentes como de los productos. Principalmente se analizan materiales en base cemento, como morteros y hormigones, y los constituyentes de estos.Cada una de las técnicas son de carácter general y se aplican a diferentes lineas de investigación. Es necesaria la utilización de diferentes técnicas para el análisis de los materiales, ya que su estudio incluye su fabricación, caracterización, durabilidad y vida en servicio; así como el análisis de su potencial deterioro debido a su interacción con el medioambiente así como con otros factores

Este laboratorio presta ayuda cientifico-técnica en la caracterización microscópica y microanalítica de los materiales que se estudian en los Proyectos y Contratos de Investigación que se llevan a cabo en el CENIM, en otros Institutos del CSIC y otros OPIs. Así mismo se realizan trabajos de apoyo técnico a la industria. El laboratorio cuenta con dos microscopios FEG-SEM (Schottky y cátodo frío), un SEM convencional y un TEM analítico de 200 kV así como de las técnicas de preparación de muestras necesarias para su observación. Equipos: -JSM 6500F (emisión de campo cátodo caliente): SE, BSE, EDS, EBSD. -CFEG SEM Hitachi S4800 (emisión de campo cátodo frío). SE (filtro exB), BSE, TE, EDS. -Hitachi S2100 (filamento W): SE. BSE -JEM 2010 (200 kV): BF, DF, DP, EDS, Cámara CCD Adelgazador Iónico de doble cañón Fischione 1010. Equipo de adelgazamiento electrolítico de doble chorro: TenuPol 5 Sputtering Spi Evaporador Jeol JEE 4B Cortadora radial Struers Accutom 5 Corte y pulido

El servicio de micro y nanofabricación (MiNa) del Instituto de Microelectrónica de Madrid (IMM) une el Laboratorio de Litografía de Alta Resolución (LAB-LAR) con el resto del equipamiento de la Sala de Fabricación del IMM. El LAB-LAR pertenece a la Red de Laboratorios e Infraestructuras de Investigación de la Comunidad de Madrid disponiendo de la certificación de calidad ISO 9001. MiNa oferta un servicio flexible adaptando la tecnología al usuario, abarcando desde procesos básicos de fabricación que constan de una sola etapa, hasta procesos de fabricación multi-etapa, ofreciendo la posibilidad de fabricar estructuras complejas sin las restricciones impuestas por una Sala Blanca convencional. Nuestra amplia experiencia, pionera en el desarrollo de la nanotecnología en España, permite ofrecer procesos tecnológicos más allá de los estándares. Destacamos la litografía de alta resolución por haz de electrones y la litografía de ultra alta resolución por haz de iones en grandes áreas.

El servicio comprende la microscopía electrónica de barrido (SEM), junto con un laboratorio de preparación de muestras para TEM y SEM. --El equipo SEM es un microscopio de emisión de campo de cátodo frío que permite realizar imágenes de la morfología y textura superficial de las muestras con una resolución de 1 nm a 15kV. También permite trabajar a bajo voltaje en muestras sin metalizar y en modo transmisión en muestras electrón-transparentes. Acoplado al detector de rayos-X (EDX) permite análisis elementales y mapas composicionales. El equipo disponible es un SEM-FEG Hitachi-S4800 (0.5-30 kV), con analizador EDX Bruker-X Flash-4010 (resolución 133 eV en el MnK&alpha;) y un detector con portamuestras para trabajar en modo transmisión (STEM-in-SEM). --El laboratorio de preparación de muestras dispone de metalizador de oro, evaporador de carbón, metalizador de Cr y carbón, cortadora de disco y ultrasónica, pulidora, &ldquo;disc-grinder&rdquo;, pulidora cóncava (dimple) y adelgazador