Test de eventos simples mediante técnica de láser pulsado

Service description

Los dispositivos electrónicos en aplicaciones de espacio, defensa y medicina están expuestos a diversos tipos de radiación, que incluyen fotones y partículas de alta energía (electrones, protones, neutrones e iones). La radiación puede producir efectos que se pueden manifestar como una degradación de los parámetros a largo plazo (efectos de la dosis total de ionización o TID) o cambios transitorios en el estado de los circuitos (efectos transitorios). Mientras que el endurecimiento frente a TID de los procesos de fabricación de circuitos integrados en general ha mejorado en estos últimos años, principalmente debido a las reducciones en espesores de óxido de puerta y aumentos en densidades de dopaje, la reducción de las dimensiones de los dispositivos han aumentado la sensibilidad de los dispositivos a los efectos transitorios. El servicio ofrece la posibilidad de estudiar el efecto producido por el impacto de una partícula de alta energía en un dispositivo semiconductor o circuito (Single-Event Effects o SEE) mediante el método de láser pulsado, que es una herramienta potente y de bajo coste para obtener información acerca de la dependencia espacial y temporal de la sensibilidad que presentan los circuitos integrados a radiación. El equipamiento del servicio consta de un láser de femtosegundo muy compacto PULSBOX PICO-RAD 1064-50, fabricado por PULSCAN, que utiliza la técnica del fotón único con longitud de onda 1064nm y un osciloscopio de señal mixta MSO9404A para la adquisición de la señal de salida.