Dispersión de rayos X a bajo ángulo (SAXS)

La difracción de rayos-X permite: -Identificar cualitativa y cuantitativamente sustancias cristalinas y caracterizar su microestructura y textura. -Abordar el análisis de muestras policristalinas de muy distinta naturaleza, en lo referente a su composición, estabilidad química, cristalinidad, etc. -Seguir las transformaciones de fase “in situ” provocadas por calentamientos en atmósfera inerte (vacio, Ar) o reactiva (H2, O2,...). -Caracterizar materiales en la nanoescala (1-100 nm) mediante el estudio de la dispersión de rayos-X a ángulos bajos (SAXS). -Determinar el grosor, densidad y rugosidad de películas delgadas, mediante Reflectometría de rayos-X. Obtener la estructura cristalina de materiales inestables a la atmósfera o muy transparente a los rayos-X, mediante el empleo de capilares, etc

El laboratorio de "Rayos X" puede proporcionar la caracterización estructural de muestras de polímeros y materia blanda mediante técnicas de Dispersión de Rayos X a bajos ángulos (SAXS) y Dispersión de Rayos X de gran angular (WAXS) (usando dichas técnicas individualmente o simultáneamente). Se dispone del siguiente equipamiento: • SAXS: Rigaku PSAXS-L (120-520K), el cual puede realizar medidas simultáneas de WAXS • WAXS: Bruker AXS D8 ADVANCE (120-520K)