- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnología de Materiales
- Grupo
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- Microscopía, Microanálisis e Imagen
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- Barrido
Scanning electron microscopy (SEM): Variable Preassure SEM (Low Vacuum)
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SERVICIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO RJB - Madrid |
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SERVICIO DE MICROCOPÍA ELECTRÓNICA Y ÓPTICA ICM - Barcelona |
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LABORATORIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA Y MICROANÁLISIS IH - Madrid |