- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnología de Materiales
- Grupo
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- Microscopía, Microanálisis e Imagen
- Subagrupación
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- Barrido
Microscopía electrónica de barrido (SEM) : Microscopio ambiental
Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
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SERVICIO DE CARACTERIZACIÓN Y ASISTENCIA CIENTÍFICO-TÉCNICA ICTP - Madrid |
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SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS MNCN - Madrid |
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MICROSCOPIA OPTICA Y ELECTRONICA GEO3BCN - Barcelona |