- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnología de Materiales
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- Análisis y Métodos Físicos
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- Óptica y Fotónica
Ellipsometry of thin layers on silicon
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ESPECTROFOMETRÍA DE INFRARROJOS Y ELIPSOMETRÍA ICMM - Madrid |
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Sala Blanca Integrada de Micro y Nanofabricación IMB-CNM - Cerdanyola del Vallès |
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Laboratorio de Caracterización Superficial ICV - Madrid |
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ICMAB - Cerdanyola del Vallès |