Skip to main content
 
Áreas de investigación
Ciencia y Tecnología de Materiales

Grupo
Análisis y Métodos Físicos

Subgroup
Óptica y Fotónica

Ellipsometry of thin layers on silicon

Information relating to the units that offer the selected service
Support unit Support unit Information Selected service Other services

ESPECTROFOMETRÍA DE INFRARROJOS Y ELIPSOMETRÍA

ICMM - Madrid

Sala Blanca Integrada de Micro y Nanofabricación

IMB-CNM - Cerdanyola del Vallès

Laboratorio de Caracterización Superficial

ICV - Madrid

PLATAFORMA NANOQUIM

ICMAB - Cerdanyola del Vallès