- Instituto
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- INSTITUTO DE MICROELECTRONICA DE BARCELONA
DISPOSITIVO Y METODO PARA LA DETERMINACION DE CARACTERISTICAS ELECTRICAS DE NANOCONTACTOS ENTRE UNA NANOESTRUCTURA LONGITUDINAL Y UNA PISTA DE METAL PARA SU CONEXIONADO
Investigadores
| LUIS ANTONIO FONSECA CHACHARO |
| ISABEL GRACIA TORTADES |
| EDUARDO FIGUERAS COSTA |
| CARLES CANE BALLART |
| JOAQUIN SANTANDER VALLEJO |
| MARIA NEUS SABATE VIZCARRA |