Microscopía atómica de fuerzas, AFM

La microscopia atómica de fuerzas permite obtener imágenes tridimensionales, con resolución atómica o molecular, de la superficie de muestras conductoras o no conductoras, sin preparación especial. También se pueden realizar medidas de modulación de fuerzas así como imágenes de "volumen de fuerzas" para tener información sobre diferencias de propiedades elásticas. Los estudios se pueden llevar a cabo en condiciones ambientales o en medio líquido.

Microscopía de barrido por sonda (AFM y STM) (NT-MDT NTEGRA Prima).

Aplicaciones: Biología y Biotecnología, Ciencia de Materiales: Materiales Magnéticos, Semiconductores, Polímeros y Películas delgadas orgánicas, Nanomateriales, Nanoelectrónica, Nanomecanización.

Técnicas y modos de medida:
En aire&Líquido: AFM (método en contacto, semi-contacto y sin-contacto)/ Microscopía de fuerza lateral/ Contraste de Fase/ Modulación de fase/ Fuerza de adhesión/