XRD (Difracción de Rayos X) Láminas delgadas

En ciencia de materiales, el conocimiento de la estructura y composición de los materiales estudiados es un requisito clave para la comprensión de sus propiedades. Basándonos en el fenómeno de la difracción de rayos-X podemos adquirir una gran información tanto estructural como microestructural de los materiales cristalinos. El laboratorio está dotado de tres difractómetros, un difractómetro convencional de polvo (Siemens D-5000), un difractómetro de polvo con ánodo giratorio (Rigaku) y un difractómetro provisto de un goniómetro de cuatro ángulos (Bruker D8 Advance) con un detector 2D (Sistema GADDS). El objetivo del Servicio es atender las necesidades de los diferentes departamentos del centro así como a los usuarios externos solicitantes ofreciendo en todos los casos las máximas prestaciones posibles. La función más frecuente del Servicio son los análisis cualitativos y cuantitativos de fases cristalinas, así como la determinación estructural y microestructural en capes delgadas.

El laboratorio de Rayos X está dotado de los siguientes equipos: - Espectrómetro de fluorescencia de rayos X con un sistema analizador por dispersión de longitud de onda de rayos X (WDX) Bruker S8 tiger - Equipo de microfluorescencia de Rayos X Fischerscope XUV con detector de dispersión de energías de rayos X (EDX). - Difractómetro de rayos X Siemens D5000, equipado con un anillo central de Euler abierto - Difractómetro de rayos X de alta precisión Bruker AXS D8 advance, con anillo central de Euler abierto, equipado con un sistema de detector lineal y un puntero láser controlado por vídeo cámara para asegurar la correcta colocación de la muestra y alineado del haz. En el laboratorio se realizan, entre otros, los siguientes ensayos a) Análisis por fluorescencia y microfluorescencia de rayos X (FRD y µFRD) b) Caracterización estructural por difracción de rayos X (XRD). Para una descripción más detallada de los ensayos, vease el apartado "Prestaciones" en el Menu principal.

La difracción de rayos-X permite: -Identificar cualitativa y cuantitativamente sustancias cristalinas y caracterizar su microestructura y textura. -Abordar el análisis de muestras policristalinas de muy distinta naturaleza, en lo referente a su composición, estabilidad química, cristalinidad, etc. -Seguir las transformaciones de fase “in situ” provocadas por calentamientos en atmósfera inerte (vacio, Ar) o reactiva (H2, O2,...). -Caracterizar materiales en la nanoescala (1-100 nm) mediante el estudio de la dispersión de rayos-X a ángulos bajos (SAXS). -Determinar el grosor, densidad y rugosidad de películas delgadas, mediante Reflectometría de rayos-X. Obtener la estructura cristalina de materiales inestables a la atmósfera o muy transparente a los rayos-X, mediante el empleo de capilares, etc