Structural Characterization: Tranmision Electron Microscopy (TEM)

Observation and study of samples in an analytical transmission electron microscope (TEM) Jeol JEM 2010: 200 kV, resolution 0.19 nm, Cs 0.5 mm, double…

Caracterización estructural: Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)

Observación y estudio de muestras en un microscopio electrónico de transmisión analítico (TEM) Jeol JEM 2010: 200 kV, resolución 0,19 nm, Cs 0,5 mm,…

Zeta potential determination

Nano Z instrument (Malvern) for zeta potential determination at controlled temperature in colloid samples. Determination of isoelectric point by zeta…

Evaluación de potencial Z y determinación del punto isoeléctrico

Equipo Nano Z (Malvern) para determinación del potencial zeta en muestras coloidales a temperatura controlada. Determinación del punto isoeléctrico…

Low temperature Diferential scanning calorimetry

Array

Calorimetría diferencial de barrido de baja temperatura

La calorimetría diferencial de barrido es una técnica de caracterización de materiales. El calorímetro diferencial de barrido está equipado con un…

Scanning Electron Microscopy (SEM)

Scanning electronic microscopy for inspection of sample at micro-nanometer scale. Zeiss Leo 1530/Zeiss 1560 XB y Zeiss Auriga 40 models

Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)

Microscopía electrónica de barrido para inspección de muestras a escala micro-nanometrica. Modelos Zeiss Leo 1530/Zeiss 1560 XB y Zeiss Auriga 40.

Determination of wear resistance

Determination of wear resistance either by abrasion, adhesion,wear caused by surface fatigue and wear due to tribochemical reactions in metallic,…

Determinación de la resistencia al desgaste

Determinación de la resistencia al desgaste. Tribómetro