Microscopía de campo cercano: fuerza atómica y efecto túnel

Objetivo
Dar apoyo a la investigación científica tanto interna (del ICP) como externa (de otros centros del CSIC, OPIs, universidades y empresas) mediante las técnicas de Microscopías de Fuerzas Atómicas (AFM) y de Efecto Túnel (STM).

Equipo y accesorios
Se dispone del equipo “Agilent 5500 Scanning Probe Microscope” de alta resolución, ubicado en el interior de una cámara, sobre la que está colgado, para el aislamiento de vibraciones, que permite adquirir / registrar imágenes mediante técnicas en modo contacto o acústico (técnicas AFM o ACAFM) o mediante efecto túnel (STM).
Es un equipo muy versátil pues dispone de los accesorios necesarios para:
• Análisis de superficies al aire o sumergidas en medio líquido.
• Control de temperatura
• Control de la atmósfera de medida
• Medidas electroquímicas combinadas tanto con los modos AFM como STM

Asimismo, se dispone del software “PicoImage”, compatible con el software de adquisición