Microscopía de barrido: AFM contacto

La Sala Blanca integrada de Micro y Nano fabricación (SBCNM) es una Gran Instalación (ICTS) dedicada al desarrollo y aplicación de tecnologías innovadoras en el campo de la microelectrónica, junto con otras Micro / Nanotecnologías emergentes. Está integrada administrativamente en el Centro Nacional de Microelectrónica - Instituto de Microelectrónica de Barcelona - (IMB-CNM), un centro de investigación perteneciente al Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC). Desde su creación, la SBCNM es la principal instalación de apoyo a la actividad de I + D del IMB-CNM. Aunque claramente definida en sus recursos, las políticas y la misión, la SBCNM necesita ser entendida en el marco del IMB-CNM. La Sala Blanca da servicio no sólo a los grupos de investigación del IMB-CNM, sino que también es un centro de acceso abierto con una amplia orientación científica y técnica en el campo de los dispositivos, circuitos y sistemas basados en la micro y nanotecnología.

La unidad TEM-BIOPHYM ofrece los medios para la caracterización de muestras mediante microscopía electrónica de transmisión (TEM), de fuerzas atómicas (AFM) y reología. -El microscopio electrónico trabaja en voltaje de aceleración de 200 kV con una unidad de microanálisis de rayos X (XEDS). El equipo puede obtener imágenes de alta resolución, diagramas de difracción de electrones y análisis elemental. Estas tres técnicas se pueden aplicar de forma simultánea para caracterizar los materiales a escala nanométrica con resolución hasta 3.2 amstrongs. -El AFM de modo de contacto se basa en el uso de una sonda mecánica para generar imágenes magnificadas de la superficie de las muestras. El instrumento es operable en ambiente y resuelve características en tres dimensiones, hasta unos pocos nanómetros. -La reología se lleva a cabo en los modos de torsión y capilar. -Asesoramiento en modelos atomísticos, de grano grueso y en la mesoescala en química, biología y ciencias de materiale

El Laboratorio posee dos técnicas de análisis de superficies: -Espectroscopía Fotoelectrónica de rayos X (XPS), VG Microtech, modelo MT 500, (Fisons Instruments), con una fuente de Rayos X dual (Mg/Al), detector CMA de tres channeltron y cañón de iones EX05 para el bombardeo por iones Ar -Microscopía de fuerza atómica (AFM), marca Agilent modelo 5100. Se trata de un laboratorio con Sistema de Gestión de Calidad (ISO 9001:2008) con certificado nº SGI 6016951. El análisis por XPS proporciona información sobre la composición elemental y el estado químico de cada elemento. En combinación con el bombardeo con iones Argón (A.I.B.) se pueden obtener perfiles de composición hasta un máximo de 100nm. El análisis por AFM permite obtener una medida de la topografía y rugosidad de muestras sólidas tanto en aire como en líquidos. Dependiendo de la punta es posible obtener información sobre otras propiedades superficiales (medida de diferencias de potencial (SKP), conductividad, etc.