Caracterización eléctrica de dispositivos semiconductores

Descripción del servicio

Cartografía en oblea de dispositivos microelectrónicos con medidas de tipo I-V, C-V, C-t, I-t, etc.

Descripción del servicio

El servicio ofrece el equipamiento y soporte necesario para la obtención de los parámetros que caracterizan a los distintos dispositivos semiconductores (transistores CMOS, BJT, diodos, leds, etc.). Entre otras, el servicio cuenta con las siguientes capacidades de medida: - Medidas I/V - Medidas C/V - Medidas I/V pulsadas - Medidas de impedancia - Medidas precisas de inductancia, resistencia y capacidad - Pruebas de fiabilidad de dispositivos Las facilidades disponibles incluyen los equipos de caracterización de semiconductores HP4145, HP4155 y Agilent B1500, complementados con los sistemas ACS EOS 200TC y Thermonix T-2650V, que permiten modificar la temperatura a la que pueden ser testados los dispositivos. Además cuenta con los equipos de medida CV HP4280A y LCR HP4285A, así como con una estación de sondas Karl Suss PSM6 que permite realizar la caracterización sobre oblea de hasta 3,5 pulgadas o dispositivos sin encapsular.