Una nueva técnica permite descifrar chips mientras están en funcionamiento
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Un equipo con participación de científicos del Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC) han ideado una nueva técnica para obtener simultáneamente diferentes tipos de información del interior de dispositivos nanoelectrónicos mientras están en funcionamiento. Los resultados, que aparecen publicados en el último número de la revista Science Advances, podrían ser empleados, entre otras aplicaciones, en el desarrollo de nuevas baterías.
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Referencia científica:
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Andreas Johannes, Damien Salomon, Gema Martinez-Criado, Markus Glaser, Alois Lugstein, Carsten Ronning. In-operando X-ray imaging of nanoscale devices: composition, valence, and internal electrical fields. Science Advances. DOI: 10.1126/sciadv.aao4044